- 非接觸式精密測量解決方案
- 測量範圍：微米(µm)至60公尺
- 廣泛應用於工業自動化與品質控制
- 即時、高精度、高可靠性
雷射感測器
範圍：20mm - 13m
解析度：2 µm
優勢：高精度、快速反應
超音波感測器
範圍：最長 6000mm
解析度：0.3 mm
優勢：不受顏色影響
電感式感測器
範圍：0 - 4mm
解析度：0.1 µm
優勢：超高精度金屬檢測
雷達感測器
範圍：最長 60m
解析度：mm級
優勢：抗環境干擾
| 感測器 | 解析度 | 測量精度 | 線性度 | 反應時間 | Teach功能 |
|---|---|---|---|---|---|
| 電感式 | 0.1 µm | 1 µm | 0.4-4% | 0.35 ms | ✓ |
| 雷射光學 | 2 µm | 2 µm | 0.1-1.2% | 0.9 ms | ✓ |
| 超音波 | 0.3 mm | 0.5 mm | 0.5% | 50 ms | ✓ |
Baumer所有感測器均支援統一Teach-in程式化功能
測量技術
三角測量法
範圍：20mm-1700mm
雷射光投射於物體，反射光成像於CCD
高精度、高解析度
飛時測距法
範圍：最長13m+
測量雷射脈衝往返時間
長距離、不受反射率影響
光束類型
- 點雷射：小光斑、高解析、精確測量
- 線雷射：雷射線、粗糙表面、2D輪廓
- 多點雷射：600測量點、光面粗面通用
產品系列
Series 12
最小型雷射距離感測器
可程式化至120 mm
極快速度、緊湊設計
Series 250/260
飛時測距(ToF)技術
最長13m
同級最緊湊設計
應用實例
- 手錶零件品質控制：Series 12極精密檢測
- 大型物體檢測：Series 250/260長距檢測
- 遠距監測：ToF技術不受反射率影響
產品系列
Series 21
最高1000mm
最高精度、高解析度與線性度
高要求測量應用
Series 20
可程式化至1000mm
點/線雷射雙模式、堅固設計
洗淨設計變體
Series 13
可程式化至550mm
極緻小型化外殼
空間受限場合
技術優勢
- 線雷射適合粗糙表面測量
- 捲軸直徑測量以確定紗線長度
- 多樣化應用、食品產業適用
Baumer OM70系列
- FEX® 光切法：每秒記錄最多600個測量值
- 速度：每秒500次距離測量
- 解析度：最高2 µm (0.008% 測量範圍)
核心優勢
表面適應性
適用不均勻光面與極粗糙表面
快速啟動
出廠校準、無需外部軟體
抗干擾
高抗環境光干擾、測量極穩定
應用領域
- 金屬物體品質檢測
- 研磨盤精密定位
- 光澤表面測量
- 粗糙表面測量
規格特色
| 線性偏差 | ±3 µm (點雷射) / ±6 µm (線雷射) |
| 重複精度 | 0.12 µm (點雷射) / 0.27 µm (線雷射) |
| 測量範圍 | 40-60mm (線雷射) / 65-135mm (點雷射) |
| 防護等級 | IP67 |
| 介面 | IO-Link、類比 I/U、Modbus RTU |
核心優勢
- 表面獨立式高精度測量
- 機械與熱穩定設計
- 快速配置：Baumer Sensor Suite或Web介面
- 相容主流自動化系統
應用範疇
位置控制
品質監測
厚度檢測
高度檢測
輪廓追蹤
組裝控制
測量原理
- 發射超音波(≥40 kHz)，測量回波時間
- 距離 = 聲速 × 時間 / 2
獨特優勢
顏色無關
不受物體顏色、透明度影響
多元檢測
可檢測：固體、液體、額粒、粉末
透明物體
透明物體檢測(光學感測器難點)
抗干擾
抗光學干擾、適合惡劣環境
Baumer特色
- 小型化：20 × 42 × 15 mm (最新世代)
- 測量距離：最長 6000 mm
- 恆定解析度：<0.3 mm
- 特殊功能：可測量試管等小型開口
使用限制
聲音吸收材料(泡棉、布料)會降低效能，表面粗糙度需<0.2mm
汽車製造
焊接檢測、組裝驗證、零件識別
半導體
晶圓檢測、IC封裝、缺陷檢測
電子元件
PCB檢測、元件定位、焊點檢測
食品包裝
標籤檢測、封口品質、異物檢測
製藥
藥品檢測、包裝完整性、批號識別
物流倉儲
條碼識別、自動分揀、尺寸測量
核心效益
- 提升品質控制精準度
- 降低人工檢測成本
- 提高生產效率
- 實現全自動化檢測
- 即時缺陷偵測
解析度
根據檢測精度與視野範圍選擇
幀率
配合生產線速度與檢測需求
感測器
CMOS主流、CCD高精度場合
介面
考慮距離、頻寬、相機數量
鏡頭
視野、焦距、景深、畸變
照明
根據物體特性選擇照明方式
環境
溫度、濕度、防護等級
軟體
影像處理演算法與整合性
主要應用類別
品質控制
厚度測量：雙雷射同步測量
表面輪廓檢測：線雷射掃描
缺陷檢測：多點雷射穩定測量
位置與定位
機械軸定位：電感式高精度
物料流控制：超音波/雷射即時監測
機器人導引：ToF雷射導航
液位與填充
液位監測：超音波穿透容器
料位檢測：雷達或超音波
透明液體：超音波不受影響
行業應用實例
汽車
底盤高度、焦接檢測
半導體
晶圓定位、微米測量
包裝
填充高度、標籤位置
木材/造紙
捲徑測量、張力控制
輸出介面
類比輸出
0-10V 電壓 / 4-20mA 電流
長距離傳輸、高抗干擾
數位介面
RS485 (11位元解析度)
最大數據安全性
工業乙太網路
PROFINET, EtherNet/IP, EtherCAT
工業4.0整合
IO-Link
智慧感測器通訊
參數化、診斷、數據交換
Teach-in特色
- 統一流程：所有測量原理統一程式化介面
- 自由配置：在預設範圍內自訂測量範圍
- 訊號最佳化：小測量範圍獲得大訊號變化
- 切換輸出：可自由定義兩個切換闾值
配置工具
完整產品線
- 涵蓋 µm 到2m 測量範圍
- 多種技術：雷射、超音波、電感式、雷達
- 性能等級：從經濟型到超高性能
- 應用覆蓋：適用各種工業場景
技術創新
FEX® 多點雷射
600測量點穩定測量
極緻小型化
最小6.5×40mm
數位信號處理
微處理器整合
統一Teach-in
所有技術通用
工業品質
- IP65/67 防護等級
- 寬溫度範圍：-40°C 至 70°C
- 洗淨設計變體：食品產業適用
- EMC 電磁相容性：工業環境可靠
全方位支援
- 專業應用諮詢：協助選擇最適感測器
- 客製化解決方案：特殊應用開發
- 長期產品供應：穩定供應鏈
- 全球技術支援：在地服務
Baumer提供業界最完整的距離測量解決方案，從微米級精密測量到60公尺長距檢測，滿足各種工業自動化需求